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- Non-Multiplexing Pin Designed
- Driver/Receiver Ratio 1:1
- 테스트 포인트 : 3584pin 까지 확장
- 100 MHz 주파수 까지 측정가능
- BGA Chip에대한 Tree-Chain 검사
- BST (Boundary-Scan Test) 적용으로 IC 검사 및 Flash Memory Writing 가능

- Short / Open / Analog 부품
- TTL, CMOS
- Memory
- Flash/SDRAM/SGRAM
- DDR RAM/High Speed
- BGA Chip
- CPU
- Crystal/ Oscillator
- Power On Sequence
- Mixed Mode IC
- Frequency Measurement
- Tree-Chain
- Boundary Scan
- Boundary Scan Chain
- JTAG Function

- 자동 프로그램 기능
- Excel 형식의 Program 편집 화면
- 빠른 자동 Debugging과 단축키 제공
- 실시간 검사결과 Monitoring

- Data Convertion Program 제공
- Fixture Adaptor 제공

 

 
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