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IC 에 Test Pattern을 인가, 내부로직 및 연결상태 검사

- 5개의 Point로만 측정 가능하므로 Fixture 공용화 가능
- 고집적화 된 IC에 대한 연결상태 및 기능검사 구현
- Flash Memory 에 대한 Write, Erase 가능

 

 
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